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A.過程打點可能出界
B.過程打點不會出界
C.過程打點一定出界
D.以上都有可能
A.過程一定處于統(tǒng)計受控狀態(tài)
B.過程一定沒有特殊原因
C.過程可能有特殊原因
D.以上都對
A.多個
B.單獨
C.成對
A.檢驗一個樣本是否來自正態(tài)總體
B.若確定是正態(tài)分布,可估計正態(tài)均值和正態(tài)標準差
C.可用來檢驗一個樣本是否來自對數(shù)正態(tài)分布
D.用來檢驗一個樣本是否來自二項分布
A.過程平均是變化的,可能仍處于變化之中
B.測量系統(tǒng)是變化的
C.這個過程是不變的
D.測量系統(tǒng)是不變的
E.只有A和B
F.只有C和D
最新試題
Ppk(性能指數(shù),即初期過程的性能指數(shù))
SPC意思是統(tǒng)計過程控制。
因為X(bar)-R圖最為精確和敏感,較其它方法優(yōu)勢更強,因此大多數(shù)企業(yè)都選擇使用該方法。
過程(Process)
1924年,美國的品管大師休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將3Sigma原理運用于生產(chǎn)過程當中,并發(fā)表了著名的“控制圖法”(亦稱為:Shewhart控制圖或3σ控制圖。即:一種以實際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗所分析的過程能力的控制界限比較,而以時間順序表示出來的圖形)。通過對過程變差進行控制,為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
只有超出USL和LSL才需要采取措施。
當X-MR圖中有連續(xù)9個點落在中心線同一側(cè)時,說明過程處于()
控制限
Ppk用于批量生產(chǎn)時對過程能力分析,Cpk用于批產(chǎn)前對過程能力的分析。
特殊特性