A.Df=λ
B.Df>λ
C.Df>>λ
D.Df<< λ
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A.超聲波的頻率
B.超聲波的波形
C.介質(zhì)的性質(zhì)
D.超聲波的發(fā)射功率
A.∑i=0
B.∑I=0
C.∑I=2I
D.以上都不是
A.渦流的擴(kuò)散衰減
B.交變電流的趨膚效應(yīng)
C.渦流探傷儀的功率小
D.材料的磁導(dǎo)率不均勻
A.端部盲區(qū)
B.信噪比
C.誤報(bào)率
D.周向靈敏度波動(dòng)
A.相位相同
B.外超前于內(nèi)
C.外置后于內(nèi)
D.無(wú)規(guī)律
最新試題
對(duì)于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會(huì)影響缺陷的定量。
儀器時(shí)基線調(diào)節(jié)比例時(shí),若回波前沿沒(méi)有對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn),會(huì)使缺陷定位誤差增加。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計(jì)算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。
缺陷相對(duì)反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測(cè)量,測(cè)試時(shí)儀器抑制置“零”或“開(kāi)”位,必要時(shí)可加匹配線圈。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷的定量依賴(lài)于缺陷的回波幅度。
檢測(cè)曲面工件時(shí),探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時(shí),接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。