1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實(shí)現(xiàn)的。

變形振動(dòng)分為（）。

利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒有影響。