問答題簡述X光方法測(cè)應(yīng)力的特點(diǎn)并說明能夠用X光方法測(cè)定構(gòu)件的宏觀殘余應(yīng)力的原理。
您可能感興趣的試卷
最新試題
在電子探針面分析中,根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布,可確定該元素在試樣中分布情況,亮區(qū)代表元素含量()。
題型:單項(xiàng)選擇題
與光鏡呈像相比,掃描電鏡圖像立體感強(qiáng),形態(tài)逼真,這是由于掃描電鏡的()比光鏡大100-500倍。
題型:單項(xiàng)選擇題
在體心點(diǎn)陣中,當(dāng)(HKL)晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí),產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
題型:判斷題
在電子探針中,測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀,簡寫為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
拉曼光譜分析儀在使用過程中,正確的實(shí)驗(yàn)操作有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
變形振動(dòng)分為()。
題型:多項(xiàng)選擇題
1887年,Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
題型:判斷題
X射線衍射儀中,通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖,常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子,能量基本上沒有損失。
題型:判斷題
電子束與固體樣品作用時(shí),會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品()的增加而增多。
題型:單項(xiàng)選擇題