關(guān)于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。