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用IIW試塊測定的斜探頭的折射角度,在探測任何聲束的試件時,比值()。
A.不變
B.變化
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底片寬容度大,則底片()低。
A.靈敏度
B.對比度
C.清晰度
D.感光速度
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時基器產(chǎn)生的時基線是用來測定()的。
A.缺陷位置
B.回波時間
C.回波高度
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