A.兩個或兩個以上不同方向磁場
B.反向磁場
C.高頻磁場
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A.測量儀
B.磁強(qiáng)計
C.在零件上放一磁鐵
D.仔細(xì)觀察零件是否粘有磁粉
A.1500LX
B.1000LX
C.800LX
D.2000LX
A.10伏
B.50伏
C.0.001~1伏
D.1~5伏
A.減小水平線性誤差
B.增大發(fā)射能量
C.增大儀器動態(tài)范圍
D.控制換能器阻尼
A.前者反射波高
B.前者反射波低
C.反射波相同
D.前者反射波無規(guī)律性變化
最新試題
當(dāng)探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實際位置。
檢測曲面工件時,探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
儀器時基線調(diào)節(jié)比例時,若回波前沿沒有對準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn),會使缺陷定位誤差增加。
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實心圓柱體時,入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
缺陷垂直時,擴(kuò)散波束入射至缺陷時回波較高,而定位時就會誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會使定量誤差增加,精度下降。
超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會形成等邊的三角形遲到回波。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時,若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。