A.縱波斜探頭
B.縱波直探頭
C.橫波斜探頭
D.橫波直探頭
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A.壓電效應(yīng)
B.磁致效應(yīng)
C.膨脹效應(yīng)
D.電磁感應(yīng)
A.粘度
B.表面張力
C.潤(rùn)濕能力
D.不由以上任何一種性能單獨(dú)決定
A.滲透液的粘性
B.毛細(xì)管作用
C.滲透液的化學(xué)作用
D.滲透液的重量
A.非鐵磁性材料的近表面缺陷
B.非多孔性材料的近表面缺陷
C.非多孔性材料的表面和近表面缺陷
D.非多孔性材料的表面缺陷
A.易于看出微小的痕跡
B.可用于經(jīng)過(guò)陽(yáng)極化處理和上色的表面
C.粗糙的表面對(duì)其影響較小
D.不需特殊光源
最新試題
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過(guò)一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)的方法。
水浸式探頭主要特點(diǎn)是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量,以便提高定量精度。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計(jì)算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
由于超聲波對(duì)進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時(shí)應(yīng)通過(guò)增添專門的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。
對(duì)于比正常縱波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
超聲波檢測(cè)中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會(huì)受到影響。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。
缺陷垂直時(shí),擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高,而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。