單項(xiàng)選擇題A型超聲波探傷儀,當(dāng)衰減數(shù)值增加12dB時(shí),熒光屏上的波幅降低至原來(lái)高度的()%。

A.80
B.20
C.25
D.50


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1.單項(xiàng)選擇題探頭分辨力與()成正比。

A.直徑
B.帶寬
C.頻率
D.K值

2.單項(xiàng)選擇題超聲波探傷儀經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)的放大器作用是()。

A.增大動(dòng)態(tài)范圍
B.增大頻率范圍
C.控制換能器阻尼
D.控制換能器電壓

3.單項(xiàng)選擇題鍛件接觸法探傷時(shí),如果探傷儀“重復(fù)頻率”調(diào)的過(guò)高可能發(fā)生()。

A.熒光屏“噪聲”信號(hào)過(guò)高
B.時(shí)基線(xiàn)傾斜
C.始脈沖消失
D.容易出現(xiàn)“幻像波”

4.單項(xiàng)選擇題零件中感應(yīng)的磁場(chǎng)強(qiáng)度通常叫做()。

A.電流密度
B.電壓
C.磁感應(yīng)強(qiáng)度
D.頑磁性

5.單項(xiàng)選擇題射線(xiàn)透射檢驗(yàn)時(shí),在暗盒后放置薄鉛板作用是()。

A.增感
B.防散射
C.射線(xiàn)防護(hù)
D.防反射

最新試題

高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。

題型:判斷題

當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí),而又沒(méi)有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會(huì)使定量誤差增加,精度下降。

題型:判斷題

發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。

題型:判斷題

超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會(huì)形成等邊的三角形遲到回波。

題型:判斷題

電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流,在外加磁場(chǎng)的作用下,在工件中形成超聲波波源。

題型:判斷題

當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。

題型:判斷題

由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時(shí),接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。

題型:判斷題

衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測(cè)量精確,實(shí)時(shí)成像,快速分析。

題型:判斷題

對(duì)于圓柱體而言,外圓徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。

題型:判斷題

在檢測(cè)晶粒粗大和大型工件時(shí),應(yīng)測(cè)定材料的衰減系數(shù),計(jì)算時(shí)應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。

題型:判斷題