單項(xiàng)選擇題在芯片前面加一個(gè)曲面接頭,可以使聲速聚焦,接頭稱為()。

A.聲速轉(zhuǎn)換器
B.聲速射折器
C.聲透鏡
D.聲阻尼器


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1.單項(xiàng)選擇題在定影液和顯影液中,常用的亞硫酸鈉是()。

A.還原劑
B.抑制劑
C.保護(hù)劑
D.促進(jìn)劑

2.單項(xiàng)選擇題在顯影液中,常用()作抑制劑。

A.碳酸鈉
B.米吐?tīng)?br /> C.溴化鉀
D.氫氧化鈉

3.單項(xiàng)選擇題射線照片上,裂紋的圖像一般為()。

A.寬度還算均勻的黑色條紋
B.黑色陰影
C.枝狀黑色花紋
D.兩端尖銳帶彎曲的黑色條紋

4.單項(xiàng)選擇題焊縫射線透照照片上呈園形的黑點(diǎn)是()缺陷。

A.點(diǎn)狀?yuàn)A渣
B.焊瘤
C.氣孔
D.點(diǎn)狀合金

5.單項(xiàng)選擇題超聲波探測(cè)分散的氣孔,反射波較低,主要原因是()。

A.氣孔內(nèi)有空氣
B.氣孔表面光滑
C.氣孔發(fā)射反射波
D.氣孔聚集反射波

最新試題

非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小,聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點(diǎn)和氣孔等缺陷。

題型:判斷題

超聲波檢測(cè)中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會(huì)受到影響。

題型:判斷題

分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測(cè)量,測(cè)試時(shí)儀器抑制置“零”或“開(kāi)”位,必要時(shí)可加匹配線圈。

題型:判斷題

衍射時(shí)差法對(duì)缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。

題型:判斷題

衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測(cè)量精確,實(shí)時(shí)成像,快速分析。

題型:判斷題

檢測(cè)曲面工件時(shí),探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。

題型:判斷題

高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。

題型:判斷題

由于超聲波對(duì)進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時(shí)應(yīng)通過(guò)增添專門的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。

題型:判斷題

當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí),而又沒(méi)有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會(huì)使定量誤差增加,精度下降。

題型:判斷題

水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。

題型:判斷題