A.垂直
B.平行
C.傾斜45°
D.以上都可以
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A.近表面分辨率
B.遠(yuǎn)場分辨率
C.底面分辨率
D.橫向分辨率
A.近表面分辨率
B.遠(yuǎn)場分辨率
C.底面分辨率
D.橫向分辨率
A.19mm
B.25mm
C.30mm
D.40mm
A.Φ5mm,2.5MHz
B.Φ6mm,5MHz
C.Φ5mm,5MHz
D.Φ8mm,2.5MHz
A.減少
B.保持不變
C.增大
D.隨波長均勻變化
最新試題
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。