A.15、2%
B.25、2%
C.15、3%
D.25、3%
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A.測(cè)試距離-波幅當(dāng)量曲線
B.調(diào)整探傷靈敏度
C.對(duì)缺陷進(jìn)行定量
D.以上都是
A.25~500mm
B.50~500mm
C.100~500mm
D.25~250mm
A.25、50、75、100、150、200
B.50、75、100、150、200、250
C.50、100、150、200、250、300
D.25、50、100、150、200、250
A.50、75、100、150、200
B.25、50、75、100、125
C.50、100、150、200、250
D.25、50、100、150、200
A.Ø1、2、3、4、5
B.Ø2、3、4、6、8
C.Ø2、3、4、6
D.Ø2、4、6、8
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測(cè)。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。