A、主視圖
B、俯視圖
C、左視圖
D、右視圖
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、4Vp—p
B、80Vp—p
C、8Vp—p
D、0.8Vp—p
A、73mm
B、67mm
C、71mm
D、34mm
A、73mm
B、90mm
C、120mm
D、146mm
A、光
B、耦合劑
C、聲束覆蓋
D、油污
A、直射
B、掃查
C、反射
D、折射
最新試題
探頭移動(dòng)過程中同時(shí)作()轉(zhuǎn)動(dòng),稱為擺動(dòng)掃查。
探傷掃查過程中,探頭的方向應(yīng)根據(jù)()進(jìn)行布局和掃查。
用斜探頭三次波對(duì)某一厚度為15mm,焊縫寬度為44mm進(jìn)行探測(cè),應(yīng)選擇K值為()的探頭合適。
探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對(duì)受檢工件的()做好記錄。
探傷中如遇焊補(bǔ)層下異常回波可采?。ǎ┑确椒ㄟM(jìn)行校對(duì)。
在橫波探傷中,探頭K值對(duì)探傷()有較大的影響。
垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定,并事先劃出的線上移動(dòng),相鄰掃查線的間距往往()探頭直徑。
探傷中遇鋼軌焊補(bǔ)時(shí),執(zhí)機(jī)人員必須“站停看波”在保持水量充足的情況下,探傷靈敏度應(yīng)提高()。
在超聲波探傷中當(dāng)工件聲衰減很小、試件的厚度較大時(shí),如果重復(fù)頻率過高,儀器可能會(huì)產(chǎn)生()
由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同,可能缺陷的()不一樣,因而探測(cè)面可能是試件的所有面,也可能是其中的幾個(gè)面,甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。