精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測量高程時應(yīng)使用（）

衡量地形圖測量的技術(shù)指標(biāo)主要有地物點的（）、等高線插求點的高程中誤差、細(xì)部點的平面和高程中誤差以及地形點的最大點位間距。

RTK測量的基本工作流程中，在至少（）個公共點上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點校正）。

設(shè)A點高程1279.25m，B點上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測A點上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點的高程為（）

雙面水準(zhǔn)尺中，以下說法正確的是（）。

GPS-RTK測圖時作業(yè)要求有PDOP值應(yīng)小于（）。

度盤刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤位置削弱該誤差影響。

RTK通信系統(tǒng)中常用到（）、GPRS點對點以及C.ORS網(wǎng)絡(luò)（以千尋商業(yè)應(yīng)用為代表）三種通訊方式

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀的日常保養(yǎng)中，一般使用（）擦拭鏡片。

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。