A.α衰變
B.β衰變
C.γ衰變
D.K俘獲
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你可能感興趣的試題
A.自由電子
B.原子核的質(zhì)子或中子
C.殼層電子
D.原子核外庫(kù)侖場(chǎng)
A.粒子發(fā)射
B.K俘獲
C.裂變
D.A和B
A.強(qiáng)度與管電壓成正比;
B.強(qiáng)度與管電壓成反比;
C.強(qiáng)度與管電壓平方與正比;
D.強(qiáng)度與管電壓平方成反比。
A.強(qiáng)度不變,波長(zhǎng)減小
B.強(qiáng)度不變,波長(zhǎng)增大
C.波長(zhǎng)減小,強(qiáng)度減小
D.波長(zhǎng)增大,強(qiáng)度減小
A.產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)不變,強(qiáng)度不變;
B.產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)不變,強(qiáng)度增加;
C.產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)不變,強(qiáng)度減??;
D.產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)增加,強(qiáng)度不變。
最新試題
提高射線照相對(duì)比度,會(huì)產(chǎn)生的不利后果有()
下列哪種不是射線照相法的特點(diǎn)()
為了提高橫向缺陷檢出率,射線照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施()
以下關(guān)于聲發(fā)射檢測(cè)的特點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()
下列哪一項(xiàng)對(duì)射線照相有效透照范圍的影響最大()
射線底片灰霧度過(guò)大會(huì)損害影像的()
射線檢測(cè)裂紋和其與裂紋的角度的關(guān)系是()
下列關(guān)于X射線機(jī)的使用的描述不正確的是()
X射線照相時(shí),設(shè)焦距為650mm,陽(yáng)極靶與管軸線傾角為20°,則其輻射場(chǎng)直徑為()
渦流檢測(cè)不適合于檢測(cè)()