A.Fmin值隨射線源尺寸df的增大而增大;
B.Fmin值隨固有不清晰度Ui的增大而增大;
C.Fmin值隨工件厚度T的增大而增大;
D.應(yīng)用Fmin的同時(shí)應(yīng)考慮限制射線能量不能過(guò)高。
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A.10-20mm
B.20-30mm
C.40-50mm
D.80-90mm
A.20-80mm
B.30-100mm
C.6-100mm
D.20-120mm
A.使用速度更慢的膠片
B.增加曝光量
C.提高底片黑度
D.提高射線能量
A.金屬絲影象黑度為0.5
B.金屬絲影象對(duì)比度為0.5
C.直徑0.32mm的金屬絲影象對(duì)比度只相當(dāng)于厚度差0.16mm階梯試塊的影響對(duì)比度
D.以上都不對(duì)
A.所謂“噪聲“即是底片的顆粒度
B.信噪比是指缺陷影象對(duì)比度ΔD與噪聲σD之比
C.只要信噪比大于1,缺陷就能夠識(shí)別
D.信噪比越大,缺陷識(shí)別就越容易
最新試題
X射線照相時(shí),設(shè)焦距為650mm,陽(yáng)極靶與管軸線傾角為20°,則其輻射場(chǎng)直徑為()
下列哪種不是射線照相法的特點(diǎn)()
X射線管焦點(diǎn)有效面積取決于()
射線照相法適用于下列哪種檢測(cè)對(duì)象()
下列與底片上缺陷觀察有關(guān)的因素是()
合格的底片應(yīng)至少滿足以下哪些質(zhì)量要求()
射線照相法適宜檢測(cè)的材料是()
對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類內(nèi)部缺陷,適用的無(wú)損檢測(cè)方法是()
X射線的強(qiáng)度與下面哪個(gè)參數(shù)有關(guān)()
在同樣的X射線管電流下,管電壓增加,則()