用連續(xù)法檢測時，檢測靈敏度不僅與被檢工件表面磁場強(qiáng)度有關(guān)，還受被檢工件材質(zhì)的影響。

在不退磁的情況下，周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。

相關(guān)顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：檢測后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件，一般可不進(jìn)行退磁。

磁粉檢測，所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應(yīng)記錄并圖示。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測時一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。

用連續(xù)法檢測時，檢測靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響，僅與被檢工件表面磁場強(qiáng)度有關(guān)。

濕法用磁粉粒度一般比干法小。

材料磁導(dǎo)率低（剩磁大）及直流磁化后，退磁磁場換向的次數(shù)（退磁頻率）應(yīng)較多，每次下降的磁場值應(yīng)較小，且每次停留的時間（周期）要略長。