A、電子管
B、晶體管
C、中小規(guī)模集成電路
D、大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路
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你可能感興趣的試題
A、運(yùn)算速度快、運(yùn)算精度高、應(yīng)用范圍廣、能連續(xù)的、自動(dòng)地運(yùn)行工作
B、運(yùn)算速度快、運(yùn)算精度高、存儲(chǔ)容量大、處理信息多
C、運(yùn)算速度快、運(yùn)算精度高、存儲(chǔ)容量大、能連續(xù)的、自動(dòng)地運(yùn)行工作
D、運(yùn)算速度快、運(yùn)算精度高、應(yīng)用范圍廣、能連續(xù)的、處理信息多
A、普遍性
B、可傳遞性
C、可共享性
D、載體、方式可變性
A、二進(jìn)制編碼
B、八進(jìn)制編碼
C、十進(jìn)制編碼
D、十六進(jìn)制編碼
A、接受不明的移動(dòng)硬盤拷貝個(gè)人計(jì)算機(jī)資料
B、不在電腦上保存自己的信箱密碼
C、不將計(jì)算機(jī)交給不明人員修理
D、不得隨意將自己的計(jì)算機(jī)借給別人用
最新試題
下面不是等價(jià)類測(cè)試用例設(shè)計(jì)原則的是()
RUP軟件測(cè)試流程最后的測(cè)試步驟是()
以下屬于白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試共同點(diǎn)的是()
在白盒測(cè)試法中,應(yīng)保證一個(gè)模塊中所有獨(dú)立路徑至少被測(cè)試幾次()
下面關(guān)于錯(cuò)誤推測(cè)法說法錯(cuò)誤的是()
白盒測(cè)試的目的不包括()
增殖式集成方式不包括()
以下哪項(xiàng)測(cè)試是將所有單元組裝成模塊,測(cè)試各部分工作是否達(dá)到相應(yīng)技術(shù)指標(biāo)級(jí)的活動(dòng)()
以下哪項(xiàng)不屬于軟件測(cè)試工具選擇的主要衡量指標(biāo)()
以下哪種工具可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)地確定一個(gè)基本路徑集()