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一般工件厚度較小時(shí),選用較大的K值,以便增加一次波的聲程,避免近場區(qū)探傷。
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判斷題
按照盡可能聲束與缺陷垂直的原則,選擇探頭主要考慮所測試件的結(jié)構(gòu)和厚度。
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判斷題
探頭晶片尺寸大,輻射的超聲波能量大,探頭未擴(kuò)散區(qū)掃查范圍大,遠(yuǎn)距離掃查范圍相對變小,發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離缺陷能力增強(qiáng)。
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