超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。

探傷工藝規(guī)程編制應對受檢工件的（）做好記錄。

金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來觀察材料的位錯，放大倍數一般為（）倍。

探傷掃查過程中，探頭的方向應根據（）進行布局和掃查。

在超聲波探傷中當工件聲衰減很小、試件的厚度較大時，如果重復頻率過高，儀器可能會產生（）

垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

探頭移動過程中同時作（）轉動，稱為擺動掃查。

在探傷中選用較高的頻率，將會使得（）因而發(fā)現小缺陷的能力強，可提高對缺陷的定位精度。

由于各種試件的結構、質量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。

60kg/m與75kg/m軌頭寬度極限偏差為（）