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問(wèn)答題檢驗(yàn)印章蓋印時(shí)間的其他方法包括哪些？

（1）顯微分光光度檢測(cè)法；
（2）轉(zhuǎn)印能力測(cè)定法技術(shù)由大小相等的方形小點(diǎn)構(gòu)成的，紙張正面比背面光滑。

1.問(wèn)答題如何根據(jù)印文色料洇散程度確定蓋印時(shí)間？

2.問(wèn)答題如何根據(jù)可變性印跡確定蓋印時(shí)間？

（1）選擇被檢驗(yàn)印文的可變性印跡特征；
（2）研究印文樣本的歷時(shí)變化規(guī)律；
（3）被檢驗(yàn)印文與歷時(shí)樣本的比較鑒別。

3.問(wèn)答題印章印文的歷時(shí)變化規(guī)律有哪些？其內(nèi)容是什么？

4.問(wèn)答題圓珠筆墨水相對(duì)書寫時(shí)間的檢驗(yàn)有哪些？

5.問(wèn)答題藍(lán)黑墨水相對(duì)書寫時(shí)間的檢驗(yàn)方法有哪些？