側(cè)向測(cè)井按探測(cè)半徑可分為（）

X射線衍射儀分析測(cè)定時(shí)的室溫應(yīng)在（）

（）是根據(jù)小層劃分?jǐn)?shù)據(jù)資料繪制成的，一般以油（砂）組為繪制單元。

在輕質(zhì)油地區(qū)錄井要注意做到（），嚴(yán)禁高溫烘烤。

（）對(duì)有機(jī)質(zhì)熱演化史具有控制作用。

X射線衍射分析的是樣品的（）

在測(cè)量地層電阻率時(shí)，要受（）等因素的影響，測(cè)得的參數(shù)不等于地層的真電阻率，而是被稱為地層的視電阻率。

鉆井過程中，導(dǎo)致鉆井液發(fā)生滲漏的原因是（）

X射線衍射儀是一個(gè)半封閉的設(shè)備，不需要大規(guī)模的清洗，重要的是定期清理（）

深層水平井導(dǎo)向中錄井資料中的（）發(fā)揮了重要作用。