A.0.1%
B.0.5%
C.1%
D.2%
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A.rp=(Z2-Z1)/Z1+Z2
B.tp=1+rp
C.R=rp2
D.D=1-rp2
A.0.5
B.–0.5
C.1
D.–1
A.反射定律
B.透射定律
C.折射定律
D.以上都不對(duì)
A.波形轉(zhuǎn)換
B.反射橫波
C.聲壓增大
D.以上不都對(duì)
A.出現(xiàn)在第一次底波之前
B.出現(xiàn)在第一次底波之后
C.沒(méi)有缺陷回波,只有底波降低或消失
D.以上都有可能
最新試題
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū),說(shuō)法正確的是()。
在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí),鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)()現(xiàn)象。
非熒光磁粉檢測(cè)時(shí),可見(jiàn)光照度不小于1000lx,并應(yīng)避免()。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
聚焦聲源發(fā)射的聲場(chǎng)特點(diǎn)是()。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說(shuō)法正確的有()。
人的眼睛在強(qiáng)光下,()。
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括()驗(yàn)收。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。