A.SGD曲線
B.GDS曲線
C.SDG曲線
D.DGS曲線
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A.波幅增益量
B.缺陷當(dāng)量尺寸
C.距離
D.以上都不對(duì)
A.探頭的晶片面積
B.距探頭距離
C.偏離探頭程度
D.以上都不對(duì)
A.隨著聲程的增加而下降
B.隨著聲程的增加而增加
C.隨著聲程的減小而下降
D.以上都不對(duì)
A.大于實(shí)際尺寸
B.小于實(shí)際尺寸
C.接近實(shí)際尺寸
D.以上都不對(duì)
A.50%
B.10%
C.0%
D.1%
最新試題
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵睿谡麖埖灼秶霈F(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開(kāi)口缺陷的固體污染物有()。
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說(shuō)法正確的有()。
將彎曲液面對(duì)液體的壓強(qiáng)與平面液面對(duì)液體的壓強(qiáng)相比,任何液面膜對(duì)液體施以附加壓強(qiáng),下面描述正確的是()。
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū),說(shuō)法正確的是()。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
與一次射線相比,散射線的()。
工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行()。
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有()。
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括()驗(yàn)收。