單晶體金屬特點(diǎn)有（）。

冷裂紋常見的有（）。

常規(guī)的縱波聲場(chǎng)或橫波聲場(chǎng)，聲速是以一定的角度擴(kuò)散出去的，所以有（）。

大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。

潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象，發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)（）。

顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵睿谡麖埖灼秶霈F(xiàn)，其產(chǎn)生的原因是（）。

滲透檢測(cè)時(shí)，滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi)，將受檢部位置于合適的光源（發(fā)光強(qiáng)度足夠）下檢查時(shí)，下列說(shuō)法正確的有（）。

關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū)，說(shuō)法正確的是（）。

用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。

采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí)，缺陷定位說(shuō)法正確的有（）。