A.質(zhì)子、電子、中子
B.質(zhì)子、電子、γ射線
C.光子、電子、中子
D.原子、質(zhì)子、電子
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A.面積大于聲束截面的當(dāng)量一定大
B.面積小于聲束截面的當(dāng)量反而大
C.當(dāng)量忽大忽小
D.以上都可能
A.回波幅度與底面反射波高度相差不大
B.底面反射完全消失
C.缺陷反射波高于底面回波
D.底波與缺陷波同時(shí)存在
A.F/B相同，缺陷當(dāng)量相同
B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸
C.適于對(duì)尺寸較小的缺陷定量
D.適于對(duì)密集性缺陷的定量
A.能
B.不能
C.有時(shí)能
D.觀察不到表面缺陷波
A.橫波
B.表面波
C.縱波
D.板波
最新試題
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié)，儀器長期不用，應(yīng)做到（），以驅(qū)除潮氣，防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū)，說法正確的是（）。
與一次射線相比，散射線的（）。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?，在整張底片范圍出現(xiàn)，其產(chǎn)生的原因是（）。
單晶體金屬特點(diǎn)有（）。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長缺陷應(yīng)使探頭（）。
將彎曲液面對(duì)液體的壓強(qiáng)與平面液面對(duì)液體的壓強(qiáng)相比，任何液面膜對(duì)液體施以附加壓強(qiáng)，下面描述正確的是（）。
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開口缺陷的固體污染物有（）。
超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無腐蝕的耦合劑是（）。