電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實驗操作有（）。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進坩堝內，就可以獲得良好的測試結果。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。