單項(xiàng)選擇題德拜法中有利于提高測(cè)量精度的底片安裝方法是()。

A.正裝法;
B.反裝法;
C.偏裝法;
D.A+B。


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1.單項(xiàng)選擇題最常用的X射線衍射方法是()。

A.勞厄法;
B.粉末多法;
C.周轉(zhuǎn)晶體法;
D.德拜法。

3.單項(xiàng)選擇題當(dāng)電子把所有能量都轉(zhuǎn)換為X射線時(shí),該X射線波長(zhǎng)稱(chēng)()

A.短波限λ0;
B.激發(fā)限λk;
C.吸收限;
D.特征X射線

4.單項(xiàng)選擇題當(dāng)X射線發(fā)生裝置是Cu靶,濾波片應(yīng)選()

A.Cu;
B.Fe;
C.Ni;
D.Mo。

5.單項(xiàng)選擇題M層電子回遷到K層后,多余的能量放出的特征X射線稱(chēng)()

A.Kα;
B.Kβ;
C.Kγ;
D.Lα。

最新試題

變形振動(dòng)分為()。

題型:多項(xiàng)選擇題

熱分析中對(duì)樣品的重量沒(méi)有要求,只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi),就可以獲得良好的測(cè)試結(jié)果。

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根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理,理想晶體衍射強(qiáng)度隨()而變化。

題型:多項(xiàng)選擇題

在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測(cè)定材料在恒溫過(guò)程中發(fā)生的變化。

題型:判斷題

1887年,Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

題型:判斷題

掃描電鏡的背散射電子像中,圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)()暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

在體心點(diǎn)陣中,當(dāng)(HKL)晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí),產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

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利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析,包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

題型:判斷題

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題型:判斷題

粉末多晶樣品中,不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在()半徑的倒易球上。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題