A.估計(jì)樣品的厚度；
B.確定180º不唯一性；
C.鑒別有序固溶體；
D.精確測(cè)定晶體取向。
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A.高階勞厄斑；
B.超結(jié)構(gòu)斑點(diǎn)；
C.二次衍射斑；
D.孿晶斑點(diǎn)
A.球面外；
B.球面上；
C.球面內(nèi)；
D.B+C。
A.尺寸很小的倒易點(diǎn)；
B.尺寸很大的球；
C.有一定長度的倒易桿；
D.倒易圓盤。
A.規(guī)則的平行四邊形斑點(diǎn)；
B.同心圓環(huán)；
C.暈環(huán)；
D.不規(guī)則斑點(diǎn)。
A.物鏡的物平面；
B.物鏡的像平面
C.物鏡的背焦面；
D.物鏡的前焦面。
最新試題
電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。
在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測(cè)定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。
利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實(shí)現(xiàn)的。
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。
熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。
拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實(shí)驗(yàn)操作有（）。
被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。