（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

簡單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時(shí)，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。

熱分析中對(duì)樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測試結(jié)果。

在體心點(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí)，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實(shí)驗(yàn)操作有（）。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。