電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

拉曼光譜分析時，1500cm-1以上的譜帶必定是一個基團(tuán)的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。

電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。

在體心點陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。