A、電子源
B、會(huì)聚電子束
C、形成第一副高分辨率電子顯微圖像
D、進(jìn)一步放大物鏡像
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A、電子源
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A、德布羅意
B、魯斯卡
C、德拜
D、布拉格
A、球差
B、像散
C、色差
D、背散
A、球差
B、像散
C、色差
D、背散
最新試題
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
當(dāng)?shù)挂浊蚺c反射球相交,交線是一個(gè)圓環(huán),環(huán)上每一點(diǎn)都滿足衍射條件,可以產(chǎn)生衍射。
在體心點(diǎn)陣中,當(dāng)(HKL)晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí),產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
在電子探針面分析中,根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布,可確定該元素在試樣中分布情況,亮區(qū)代表元素含量()。
熱分析技術(shù)中,試樣用量越多,熱效應(yīng)大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導(dǎo)致峰形擴(kuò)大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。
與光鏡呈像相比,掃描電鏡圖像立體感強(qiáng),形態(tài)逼真,這是由于掃描電鏡的()比光鏡大100-500倍。
拉曼光譜分析時(shí),1500cm-1以上的譜帶必定是一個(gè)基團(tuán)的頻率,解釋通常是可靠的,一般可以確信其推論。
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。
根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理,理想晶體衍射強(qiáng)度隨()而變化。
在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測(cè)定材料在恒溫過(guò)程中發(fā)生的變化。