1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

關(guān)于X射線衍射儀的測量動(dòng)作，說法正確的是（）。

利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測試結(jié)果沒有影響。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

當(dāng)?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個(gè)圓環(huán)，環(huán)上每一點(diǎn)都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。