A.低
B.高
C.無(wú)影響
D.以上都不對(duì)
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A.不一定是檢出同尺寸裂紋的靈敏度
B.就是檢出同尺寸裂紋的靈敏度
C.是檢出同尺寸各種缺陷的靈敏度
D.以上都不對(duì)
A.深度
B.寬度
C.與射線束的角度
D.以上都對(duì)
A.得到的射線照片清晰度差
B.感光速度慢
C.對(duì)比度低
D.需要的曝光時(shí)間長(zhǎng)
A.光化反應(yīng)
B.氧化
C.自然衰變
D.污染
A.應(yīng)繼續(xù)添加補(bǔ)充液
B.該顯影液應(yīng)該報(bào)廢,而不應(yīng)無(wú)限制地添加補(bǔ)充液
C.無(wú)影響
D.以上都不對(duì)
最新試題
產(chǎn)生干涉的兩列相干波,在振動(dòng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生不同的波程差,波程差與波長(zhǎng)相關(guān)聯(lián),所以不同的波程差會(huì)出現(xiàn)()等現(xiàn)象。
用縱波直探頭確定缺陷平面位置時(shí)需要考慮的問(wèn)題有()。
各種電氣設(shè)備都有各自的保護(hù)系統(tǒng),X 射線機(jī)的保護(hù)系統(tǒng)主要有()。
滲透檢測(cè)通常在()前進(jìn)行,表面處理后局部加工時(shí)需再次檢測(cè)。
當(dāng)障礙物尺寸Df< < 波長(zhǎng)λ時(shí),會(huì)出現(xiàn)以下()等現(xiàn)象。
探傷儀面板上負(fù)責(zé)掃描電路的控制旋鈕有()。
磁粉檢測(cè)用的黑光燈發(fā)出的光包含有(),而把不需要的光線用濾光片過(guò)濾掉。
標(biāo)準(zhǔn)試塊具有規(guī)定的(),這是標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求。
目前主要用的是數(shù)顯式黑度計(jì),主要作用有()。
軟X 射線管選用鉬作陽(yáng)極靶,鉬靶和鎢靶比較,()。