以下不屬于光纖干涉儀的有（）。

對(duì)于相干檢測方法，（）干涉條紋的間距，有利于提高信號(hào)檢測的對(duì)比度和增大交變分量的幅值。

計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)檢測方法的關(guān)注點(diǎn)是（）。

以下屬于光電檢測儀器的有（）。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

電光效應(yīng)反映介質(zhì)折射率與電場強(qiáng)度可能呈（）。

下列含有CCD圖像器件的是（）。

光電探測器的選擇要點(diǎn)包括（）。

以下主要利用光電子發(fā)射效應(yīng)的光電器件有（）。

熱釋電器件是一種利用某些晶體材料的自發(fā)極化強(qiáng)度隨溫度變化而產(chǎn)生的熱釋電效應(yīng)制成的熱探測器件。