具有可變電阻型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括（）。

下列含有CCD圖像器件的是（）。

在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路時(shí)，需解決下面（）的動(dòng)態(tài)計(jì)算問(wèn)題。

在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路頻率特性時(shí)，應(yīng)包括下列（）基本內(nèi)容。

激光衍射測(cè)量技術(shù)的基本原理是利用激光照明下的菲涅爾衍射效應(yīng)。

以下不屬于光纖干涉儀的有（）。

以下是CCD的發(fā)明者有（）。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

軸向測(cè)距可以應(yīng)用于復(fù)雜工件的（）等方面。

幾何變換的光電檢測(cè)方法，是利用光束傳播的（）、成像等光學(xué)變換方法進(jìn)行的光電檢測(cè)和控制。