A.增強(qiáng)型;
B.時(shí)間延遲型;
C.電子轟擊模式;
D.紅外;
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、編碼
B、模擬
C、量化
D、抽樣
A、外差探測(cè)基于兩束光波在探測(cè)器光敏面上的相干效應(yīng)。
B、外差探測(cè)適宜弱光信號(hào)的探測(cè),直接探測(cè)適宜強(qiáng)光信號(hào)的探測(cè)。
C、與外差探測(cè)相比直接探測(cè)具有良好的濾波性能。
D、外差探測(cè)具有高的轉(zhuǎn)換增益。
A、當(dāng)光波長(zhǎng)遠(yuǎn)大于散射粒子尺度時(shí),即產(chǎn)生瑞利散射。
B、當(dāng)光波長(zhǎng)相當(dāng)于或小于散射粒子的尺度時(shí),即產(chǎn)生米氏散射。
C、對(duì)于瑞利散射,藍(lán)光比紅光散射強(qiáng)烈。
D、對(duì)于瑞利散射,波長(zhǎng)越長(zhǎng),散射越強(qiáng)。
A、光電倍增管
B、光電池
C、像增強(qiáng)管
D、光敏電阻
A、外調(diào)制
B、直接調(diào)制
C、相位調(diào)制
D、電光調(diào)制
最新試題
具有可變電阻型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括()。
光電探測(cè)器的選擇要點(diǎn)包括()。
熱釋電器件是一種利用某些晶體材料的自發(fā)極化強(qiáng)度隨溫度變化而產(chǎn)生的熱釋電效應(yīng)制成的熱探測(cè)器件。
電光效應(yīng)反映介質(zhì)折射率與電場(chǎng)強(qiáng)度可能呈()。
激光衍射測(cè)量技術(shù)的基本原理是利用激光照明下的菲涅爾衍射效應(yīng)。
最早發(fā)明的電視的成像器件是()。
以下不能用傅里葉變換光譜儀測(cè)量的是()。
光電檢測(cè)電路的設(shè)計(jì)要求包括()。
軸向測(cè)距可以應(yīng)用于復(fù)雜工件的()等方面。
CMOS的字母C的英文單詞是()。