計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)檢測方法的關(guān)注點(diǎn)是（）。

對于相干檢測方法，（）干涉條紋的間距，有利于提高信號檢測的對比度和增大交變分量的幅值。

以下不屬于光纖干涉儀的有（）。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

成像測量法存在的問題，是當(dāng)物體沿景深方向移動時，會造成放大倍率的變化，這會（）測量精度。因此，需要解決自動調(diào)焦的問題。

以下主要利用光電子發(fā)射效應(yīng)的光電器件有（）。

軸向測距可以應(yīng)用于復(fù)雜工件的（）等方面。

熱釋電器件是一種利用某些晶體材料的自發(fā)極化強(qiáng)度隨溫度變化而產(chǎn)生的熱釋電效應(yīng)制成的熱探測器件。

在設(shè)計(jì)和分析交變光信號檢測電路頻率特性時，應(yīng)包括下列（）基本內(nèi)容。

紅外檢測技術(shù)是集光電成像、計(jì)算機(jī)技術(shù)、圖像處理于一身的綜合光電檢測技術(shù)。