計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)檢測(cè)方法的關(guān)注點(diǎn)是（）。

軸向測(cè)距可以應(yīng)用于復(fù)雜工件的（）等方面。

下列應(yīng)用屬于光度測(cè)量方法應(yīng)用的是（）。

以下不屬于光纖干涉儀的有（）。

在光電檢測(cè)技術(shù)中，對(duì)交變光信號(hào)的動(dòng)態(tài)響應(yīng)通常采用時(shí)域法處理。

半導(dǎo)體激光器在激光外徑掃描儀中起到提供光源的作用。

以下主要利用光電子發(fā)射效應(yīng)的光電器件有（）。

以下效應(yīng)可用于普朗克常量測(cè)量的是（）。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

以下是CCD的發(fā)明者有（）。