A.相關(guān)系數(shù)
B.判定系數(shù)
C.復(fù)相關(guān)系數(shù)
D.回歸方程的截距
E.回歸方程的斜率
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A.提出假設(shè)H0:μ≤100;H1:μ>100
B.提出假設(shè)H0:μ≥100;H1:μ<100
C.檢驗統(tǒng)計量及所服從的概率分布為
D.如果Z>Zα,則稱與μ0的差異是顯著的,這時拒絕H0
E.檢驗結(jié)果認(rèn)為該類型的電子元件的使用壽命確實有顯著提高
小樣本情況下,總體均值檢驗的統(tǒng)計量可能為()。
A.A
B.B
C.C
D.D
E.E
A.(-∞,-z0.10)和(z0.10,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
B.(-∞,-z0.05)和(z0.05,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
C.(-∞,-t0.10)和(t0.10,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
D.(-∞,-t0.05)和(t0.05,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
E.若檢驗統(tǒng)計量的絕對值越大,則原假設(shè)越容易被拒絕
A.實測顯著性水平P值<顯著性水平α
B.P值>α
C.Z<Z0
D.Z>Z0
E.Z>Zα/2
A.在顯著性α水平下,檢驗假設(shè)H0:μ=μ0;H1:μ≠μ0的假設(shè)檢驗,稱為雙側(cè)假設(shè)檢驗
B.右側(cè)檢驗和左側(cè)檢驗統(tǒng)稱為單側(cè)檢驗
C.在顯著性α水平下,檢驗假設(shè)H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設(shè)檢驗,稱為左側(cè)檢驗
D.在顯著性α水平下,檢驗假設(shè)H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設(shè)檢驗,稱為右側(cè)檢驗
E.在顯著性α水平下,檢驗假設(shè)H0:μ≤μ0;H1:μ>μ0的假設(shè)檢驗,稱為右側(cè)檢驗
最新試題
在運用實驗法獲取數(shù)據(jù)時,實驗組和對照組的產(chǎn)生應(yīng)當(dāng)是隨機(jī)的。()
產(chǎn)量總指數(shù)為()。
相關(guān)關(guān)系不是因果關(guān)系。()
重點調(diào)查和典型調(diào)查屬于抽樣調(diào)查的范疇,是非全面調(diào)查。()
需求法則表明,需求量大小與商品價格高低呈正相關(guān)關(guān)系。()
A有限總體可以進(jìn)行全面調(diào)查,也可以調(diào)查其中的一部分單位;而對無限總體只能進(jìn)行非全面調(diào)查,據(jù)以推斷總體。()
描述統(tǒng)計是研究如何利用樣本數(shù)據(jù)來獲得總體特征的統(tǒng)計學(xué)方法。()
普查必須按照一定的周期進(jìn)行調(diào)查。()
單位產(chǎn)品成本變動對銷售額的影響程度和金額分別為()。
成本總指數(shù)為()。