A.請(qǐng)工廠工程師對(duì)儀器進(jìn)行維修,必要時(shí)更換零件
B.用戶的專業(yè)人員對(duì)儀器內(nèi)部進(jìn)行調(diào)試,使儀器到達(dá)最佳狀態(tài)
C.儀器操作者使用儀器時(shí)操作仔細(xì)
D.在正常使用條件下對(duì)儀器性能指標(biāo)的測(cè)試
E.以上都不是
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A.濾波反投影的方法源于簡(jiǎn)單反投影
B.簡(jiǎn)單投影易產(chǎn)生星狀偽影
C.簡(jiǎn)單反投影衰減了投影的頻率成分
D.頻率越高的成分越容易被衰減
E.需要使用斜坡濾波器恢復(fù)各種頻率成分
A.迭代法適合解決具有嚴(yán)格數(shù)學(xué)分析答案的計(jì)算問(wèn)題
B.迭代法較早用于圖像重建,現(xiàn)已逐漸淘汰
C.迭代的次數(shù)越多,圖像重建的越精確
D.MEML算法基于傅立葉變換,逐漸取代了迭代法
E.OSEM算法基于傅立葉變換,逐漸取代了迭代法
A.1/2
B.1/4
C.1/6
D.1/8
E.1/10
A.2D采集時(shí)只允許同一環(huán)內(nèi)的探測(cè)器形成符合線
B.3D采集時(shí)同環(huán)和跨環(huán)的探測(cè)器之間形成符合線
C.2D采集的靈敏度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于3D采集方式
D.3D采集的衰減校正比2D采集更為簡(jiǎn)單
E.2D只能獲取平面圖像,3D采集可以獲取三維圖像
A.采集過(guò)程中,PET連續(xù)只記錄所有符合線上的真符合事件
B.符合事件按角度重組,一個(gè)角度的投影對(duì)應(yīng)一個(gè)矩陣單元的數(shù)據(jù)
C.矩陣的行號(hào)對(duì)應(yīng)符合線的徑向距離
D.矩陣的列號(hào)對(duì)應(yīng)符合線的角度
E.正弦圖的橫坐標(biāo)是徑向距離
最新試題
γ照相機(jī)準(zhǔn)直器的靈敏度高說(shuō)明()。
下列與固體閃爍探測(cè)器沒(méi)有關(guān)系的是()。
γ射線和X射線既是電磁波,又是()。
旋轉(zhuǎn)中心校正用于下列何種儀器()。
評(píng)價(jià)閃爍體性能的主要指標(biāo)沒(méi)有()。
SPECT像素單元絕對(duì)大小的測(cè)試頻度為()。
常用的熱釋光劑量計(jì)主要用于測(cè)量()。
SPECT對(duì)哪些方面的要求高于常規(guī)γ照相機(jī)()。
當(dāng)母核的半衰期是子核半衰期的30倍時(shí),可出現(xiàn)()。
感興趣區(qū)分析不能獲得下列哪一項(xiàng)數(shù)據(jù)。()