A.均為細長結構
B.檢測難度一樣
C.往往只有一個端頭外露
D.絕大部分隱藏在地下
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A.立柱是金屬構件
B.立柱是空心薄壁結構
C.立柱直徑大小不一
D.立柱長短不一
A.低應變反射波法操作簡便、自動判別,精度高;只需樁頭露出。
B.聲波透射法精度較高,需樁頭露出且需要預留檢測孔。
C.孔內成像法結果比較直觀,精度高;需要樁頭露出,并且進行鉆孔。
D.取芯法結果直觀;需樁頭露出、受鉆心質量影響、成本較高。
A.2
B.3
C.4
D.5
A.5%,3
B.10%,3
C.3%,10
D.3%,2
A.2%,3
B.3%,1
C.1%,3
D.3%,2
最新試題
對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產品,工藝規(guī)程應作出規(guī)定,檢驗監(jiān)控確認,檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點,否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。
對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術。
對于圓柱導體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認可后送X光檢測。
X射線檢驗人員負責對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應標注,確保定位準確。
提出有效磁導率的是下列哪位科學家()
補焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗負責,對兩個補焊區(qū)交界部位補焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時,X光室應予以配合。
按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場所每周應進行一次輻射劑量檢測。
缺陷分類應符合驗收標準的要求,標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
送檢產品工序狀態(tài)及表面質量應符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經表面檢驗合格,申請單無需檢驗蓋章確認。