A.內(nèi)外玻璃膜表面特性不同
B.內(nèi)外溶液中H+濃度不同
C.內(nèi)外溶液的H活度系數(shù)不同
D.內(nèi)外參比電極不一樣
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A.估計(jì)電極的檢測(cè)限
B.估計(jì)共存離子的干擾程度
C.校正方法誤差
D.計(jì)算電極的響應(yīng)斜率
A.濃度高,體積小
B.濃度低,體積小
C.體積大,濃度高
D.體積大,濃度低
A.選擇性系數(shù)
B.共存離子濃度
C.共存離子所帶電荷數(shù)
D.響應(yīng)斜率
A.玻璃膜的水化層所決定
B.玻璃膜的組成所決定
C.溶液中的H+性質(zhì)所決定
D.溶液中的H濃度所決定
A.只有F-能透過(guò)晶體膜
B.F-能與晶體膜進(jìn)行離子交換
C.由于F體積比較小
D.只有F能被吸附在晶體膜上
最新試題
直讀光譜分析鐵水試樣時(shí),鐵水試樣必須白口化。
ICP光譜干擾包括()。
LZ50中氧氮含量的測(cè)定,分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來(lái)水源。
原子吸收光譜儀在使用氧化亞氮火焰時(shí),儀器應(yīng)具備防回火功能。
原子熒光光譜法制作工作曲線時(shí),相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到()。
ICP中等離子體環(huán)狀結(jié)構(gòu)形成的原因是()。
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
ICP-AES法中檢出限高低取決于()。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過(guò)程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無(wú)需任何預(yù)處理。
原子吸收光譜儀,需要調(diào)整空心陰極燈燈電流時(shí),操作人員設(shè)置燈電流越大越好。