A.光譜干擾
B.基體干擾
C.背景干擾
D.電離干擾
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A.電離干擾
B.物理干擾
C.化學(xué)干擾
D.光譜干擾
A．標(biāo)準(zhǔn)曲線法
B．標(biāo)準(zhǔn)加入法
C．內(nèi)標(biāo)法
D．直接比較法
A.干擾較少
B.易達(dá)到較高的精密度
C.檢出限較低
D.選擇性較強(qiáng)
A.靈敏度高
B.重現(xiàn)性好
C.分析速度快
D.背景吸收小
A.靈敏度高且重現(xiàn)性好
B.基體效應(yīng)大但重現(xiàn)性好
C.樣品量大但檢出限低
D.原子化效率高，因而絕對檢出限低
最新試題
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測定鋼鐵中氫含量，分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器，所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測定過程中，陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用，無需任何預(yù)處理。
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池，高量程的池體短，相應(yīng)紅外光程短。
ICP所用的氣動(dòng)霧化器有三種基本類型，它們分別是（）。
選用ICP-AES儀器，同時(shí)可以進(jìn)行（）。
ICP-AES光源分為四個(gè)區(qū)域，即（）。
鋼鐵中以下元素能夠使用紅外線吸收法測量的是（）。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是（）。
ICP-AES法測量分析試樣時(shí)，所選擇的光譜分析線是（）。
原子熒光光譜法制作工作曲線時(shí)，相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到（）。