單項選擇題試塊的最小幾何尺寸根據幾何尺寸可能產生的干擾雜波必須比參考回波遲到()。
A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對
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1.單項選擇題試塊的最小幾何尺寸根據()。
A、探頭耦合面幾何尺寸來決定
B、根據試塊材料決定
C、幾何尺寸可能產生的干擾雜波必須比參考回波遲到4λ以上
D、以上都不對
2.單項選擇題采用雙晶直探頭檢驗大口徑“管座角焊縫”時,調節(jié)探傷靈敏度應采用()。
A、底波計算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線法
D、以上都可以
3.單項選擇題直接接觸法探傷可以使用()。
A、直探頭
B、斜探頭
C、雙晶探頭
D、以上都可以
4.單項選擇題下列()晶片發(fā)射縱波的近場區(qū)最長。
A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm
5.單項選擇題以下()1MHz探頭通常具有最佳的時間或垂直距離的分辨力。
A、無背襯石英探頭
B、帶酚醛樹脂背襯的石英探頭
C、帶酚醛樹脂背襯的鈦酸鋇探頭
D、帶環(huán)氧樹脂背襯的硫酸鋰探頭
最新試題
()件對不同類型的檢測對象和要求,采用的方式各有不同。
題型:單項選擇題
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題型:單項選擇題
渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。
題型:單項選擇題
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題型:單項選擇題
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題型:單項選擇題
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題型:單項選擇題
當缺陷面積大于聲束截面時,如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的()
題型:單項選擇題
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題型:單項選擇題
隨著渦流檢側儀器制造技術的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導率測量()測量功能的通用型儀器。
題型:單項選擇題
當波束中心線與缺陷面()且回波最()時,移動探頭使波束中心(),回波高度當隨之下降。
題型:單項選擇題