對(duì)于長(zhǎng)條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線(xiàn)式掃查。

用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測(cè)量黑光。

隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量（）測(cè)量功能的通用型儀器。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來(lái)表示缺陷的（）

（）件對(duì)不同類(lèi)型的檢測(cè)對(duì)象和要求，采用的方式各有不同。

當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí)，如果聲束軸線(xiàn)移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線(xiàn)在缺陷中部時(shí)波高的（）

特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì)，它反映子實(shí)體滿(mǎn)足需要的（）

渦流檢測(cè)線(xiàn)圈的互感線(xiàn)圈一般由（）構(gòu)成。

波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）

采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線(xiàn)作成實(shí)用AVG曲線(xiàn)。