對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。

在遠場區(qū)，當缺陷比聲束截面小時，缺陷波高與缺陷面積成（）

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

直接射向缺陷的波就是（）

特性是指實體所特有的性質，它反映子實體滿足需要的（）

當波束不再與缺陷相遇，則回波（）

當缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）

對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進行掃查。

對檢測儀的時間基線進行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。

波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）