磁性測厚技術包括機械式和（）兩種測量方法。

對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。

當波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時，移動探頭使波束中心（），回波高度當隨之下降。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導率、磁導率、邊條效應、提離效應等。

根據(jù)檢測對象和目的的不同，渦流檢測儀器一般可分為（）、渦流電導儀和渦流測厚儀三種。

渦流檢測線圈是在被檢測導電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生（）

渦流檢測線圈的互感線圈一般由（）構成。

渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的（）具有較好的代表性，因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。

用于測量黑光強度的現(xiàn)代黑光輻射照度計，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。