問答題已知鉬的λKα＝0.71Å，鐵的λKα＝1.93Å及鈷的λKα＝1.79Å，試求光子的頻率和能量。試計(jì)算鉬的K激發(fā)電壓，已知鉬的λK＝0.619Å。已知鈷的K激發(fā)電壓VK＝7.71kv，試求其λK。
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2.單項(xiàng)選擇題電子束與固體樣品相互作用產(chǎn)生的物理信號(hào)中可用于分析1nm厚表層成分的信號(hào)是（）
A.背散射電子
B.俄歇電子
C.特征X射線
3.單項(xiàng)選擇題可以幫助我們估計(jì)樣品厚度的復(fù)雜衍射花樣是（）
A.高階勞厄斑點(diǎn)
B.超結(jié)構(gòu)斑點(diǎn)
C.二次衍射斑點(diǎn)
4.單項(xiàng)選擇題能提高透射電鏡成像襯度的可動(dòng)光闌是（）
A.第二聚光鏡光闌
B.物鏡光闌
C.選區(qū)光闌
5.單項(xiàng)選擇題X射線物相定性分析方法中有三種索引，如果已知物質(zhì)名時(shí)可以采用（）
A.哈氏無機(jī)數(shù)值索引
B.芬克無機(jī)數(shù)值索引
C.戴維無機(jī)字母索引
最新試題
當(dāng)?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個(gè)圓環(huán)，環(huán)上每一點(diǎn)都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。
題型：判斷題
電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。
題型：判斷題
被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。
題型：判斷題
利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
題型：判斷題
利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
題型：判斷題
熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。
題型：判斷題
X射線衍射儀中，通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在紅外光譜分析中，基本振動(dòng)區(qū)是指（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
題型：判斷題