A.很高
B.很低
C.一般
D.50%
E.100%
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.管電流
B.管電壓
C.給予X線管的電能
D.靶物質(zhì)的原子序數(shù)
E.X線管陽(yáng)極、陰極間的距離
A.0.02mm
B.0.20mm
C.0.25mm
D.0.5mm
E.0.6mm
A.0.5~1.0
B.0.5~2.0
C.0.25~2.0
D.0.25~2.5
E.0.5~2.5
A.X射線的量和質(zhì)之和表示X射線的強(qiáng)度
B.量就是X射線光子的數(shù)量,質(zhì)則是X射線光子的能量
C.X射線的量和質(zhì)之積表示X射線的強(qiáng)度
D.X射線的量和質(zhì)成反比關(guān)系
E.X射線的量和質(zhì)成正比關(guān)系
A.平面焦點(diǎn)型
B.圓焦點(diǎn)型
C.三角焦點(diǎn)型
D.螺旋管型
E.有B或C項(xiàng)所述的兩種類型
最新試題
與空間分辨率無(wú)關(guān)的因素是()
不屬于磁共振偽影的是()
下列造影技術(shù)中,不屬于MR水成像范疇的是()
在IR序列中,如果某一組織的T1值接近反轉(zhuǎn)時(shí)間,則該組織在圖像上表現(xiàn)為()
為消除部分容積效應(yīng)的影響可采用()
SE序列中,質(zhì)子密度加權(quán)像是選用()
決定CT機(jī)連續(xù)工作時(shí)間長(zhǎng)短的關(guān)鍵指標(biāo)是()
短時(shí)反轉(zhuǎn)恢復(fù)(STIR)序列常用于()
為鑒別是否化學(xué)位移偽影可采用的方法是()
CT掃描層厚的確定是通過(guò)改變X線束的()